ขอบข่ายการให้บริการงานจุลทรรศน์และจุลวิเคราะห์
ขอบข่ายการให้บริการงานจุลทรรศน์และจุลวิเคราะห์ ประกอบด้วยเทคนิคการทดสอบ OM, SEM, TEM, XCT
- หน่วยงาน:
- nstda
- สัญญาอนุญาต:
- Open Data Common
- หมวดหมู่:
- ข้อมูลสาธารณะ
- ขอบเขตพื้นที่:
- ไม่มี
- ความถี่การปรับปรุง:
- ตามเวลาจริง
- พอร์ทัลต้นทาง:
- data_go_th
- อัปเดตเมื่อ:
- 24/2/2569
อัปเดตระเบียนล่าสุดเมื่อ 195 วันก่อน
ระเบียนเดียวกันนี้ปรากฏอีก 2 ครั้งบนพอร์ทัล: data_go_th, gdcatalog — นับรวมเป็นรายการเดียว
ข้อมูลภายในไฟล์
ตัวอย่าง 10 แถวแรกจากทั้งหมด 10 แถว · 6 คอลัมน์
| เทคนิคtext | ชื่อการทดสอบtext | ความสามารถtext | คำอธิบายtext | Sample Specificationtext | ชื่อเครื่อง/รุ่นtext |
|---|---|---|---|---|---|
| เทคนิค จุลทรรศน์แบบแสง | การเตรียมตัวอย่างงาน | เตรียมตัวอย่างงานงานวัสดุชนิดต่าง ๆเพื่อให้ได้คุณลักษณะที่ตร | งานเตรียมตัวอย่างงานใช้หลักการทางโลหะวิทยา ประกอบด้วยขั้นตอน | ผลิตภัณฑ์จากวัสดุชนิดต่าง ๆ เช่น เซรามิกส์ โลหะ อโลหะ โพลิเม | Cutting Machine (Struers, ExotomM) Precision Cutting Machin |
| เทคนิค จุลทรรศน์แบบแสง | การทดสอบรูปสัณฐานของวัสดุชนิดต่าง ๆ ในระดับมหภาค และจุลภาค | วิเคราะห์รูปสัณฐานระดับมหภาคของวัสดุชนิดต่างๆ เช่น ตำหนิ หรื | การตรวจสอบรูปสัณฐานระดับมหภาค สามารถตรวจสอบได้ทั้งตัวอย่างง | ผลิตภัณฑ์จากวัสดุชนิดต่าง ๆ เช่น เซรามิกส์ โลหะ อโลหะ โพลิเม | Reflected Light Microscope (ZEISS, Axiotech) Zoom Stereomicr |
| เทคนิค จุลทรรศน์แบบแสง | การตรวจสอบแร่ใยหินที่ปนเปื้อนในผลิตภัณฑ์ หรือ วัตถุดิบชนิดต่ | ตรวจสอบหาแร่ใยหินชนิดไครโซไทล์ในเชิงคุณภาพ ที่ปนเปื้อน ในผลิ | การตรวจสอบหาแร่ใยหินอาศัยหลักการพิจารณาจากรูปสัณฐานของเส้นใย | ผลิตภัณฑ์ หรือวัตถุดิบต่าง ๆ ที่มีข้อกำหนดห้ามไม่ให้มีแร่ใยห | Polarized Microscope (ZEISS, Axioskop) Scanning Electron Mic |
| เทคนิค จุลทรรศน์แบบแสง | การตรวจสอบวิเคราะห์ความเสียหาย ในผลิตภัณฑ์ต่าง ๆของวัสดุกลุ่ | วิเคราะห์หาสาเหตุเบื้องต้น ความเสียหายรูปแบบต่าง ๆ ที่เกิดขึ | การวิเคราะห์หาสาเหตุ อาศัยหลักการทาง 1. โลหะวิทยา 2. | ผลิตภัณฑ์ในกลุ่มโลหะ และอโลหะที่เกิดความเสียหาย | Reflected Light Microscope (ZEISS, Axiotech) Zoom Stereomicr |
| เทคนิค Scanning Electron Microscopy (SEM) | การวิเคราะห์โครงสร้างและองค์ประกอบธาตุด้วยเทคนิคจุลทรรศน์อิเ | วิเคราะห์โครงสร้างพื้นผิวในระดับจุลภาคที่กำลังขยายสูงถึง 20, | เป็นการยิงอิเล็กตรอนแบบสแกนนิงลงบนผิวตัวอย่าง โดยอาศัยแหล่งก | เป็นของแข็ง แห้ง ขนาดไม่เกิน 3x3x3 cm | Scanning Electron Microscopy (SEM) ยี่ห้อ: Hitachi รุ่น: S34 |
| เทคนิค Scanning Electron Microscopy (SEM) | การวิเคราะห์โครงสร้างและองค์ประกอบธาตุด้วยเทคนิคจุลทรรศน์อิเ | วิเคราะห์โครงสร้างพื้นผิวที่กำลังขยายสูงถึง 1,000,000 เท่า ส | เป็นการยิงอิเล็กตรอนแบบสแกนนิงลงบนผิวตัวอย่าง โดยอาศัยแหล่งก | เป็นของแข็ง แห้ง ขนาดไม่เกิน 3x3x3 cm | FESEM ยี่ห้อ: JEOL รุ่น: JSM7800F (Prime) with EDS/SXES |
| เทคนิค Transmission Electron Microscopy (TEM) | การวิเคราะห์ TEM (Transmission electron microscope) | ภาพถ่ายกำลังแยกแยะสูง (highresolution image) รูปแบบการเลี้ยว | ภาพถ่ายกำลังขยายสูง เป็นการวิเคราะห์ตัวอย่างในลักษณะของภาพถ | เส้นผ่านศูนย์กลางไม่เกิน 3 มิลลิเมตร ความหนาไม่เกิน 100 นาโน | Transmission electron microscopy (TEM) ยี่ห้อ : JEOL รุ่น : |
| เทคนิค Xray Computed Tomography (XCT) | การวิเคราะห์ข้อมูลโครงสร้างด้วยเทคนิค Xray Computed Tomograp | วิเคราะห์โครงสร้างของวัสดุด้วยการถ่ายภาพโดยรังสีเอกซเรย์ | เป็นการยิงรังสีเอกซเรย์ผ่านตัวอย่างสำหรับภาพวิเคราะห์สองมิติ | ขนาดสูงไม่เกิน 400 มิลลิเมตร ขนาดกว้างไม่เกิน 420 มิลลิเมตร | Xray Computed Tomography ยี่ห้อ: Waygate technologies รุ่น: |
เนื้อหาจากไฟล์ PDF
สกัดจากชั้นข้อความของไฟล์ PDF ต้นฉบับ ไม่ใช่การอ่านด้วย OCR — ให้ยึดไฟล์ต้นฉบับเป็นหลักฐานอ้างอิง
ศูนย เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห งชาติ เลขที่เอกสาร : AP-MT-MCU-MMS-01ปรับปรุงครั้งที่ : 0วันที่มีผลบังคับใช' : 2566หน'าที่ : 1 ของ 9ชื่อเอกสาร : ภาคผนวก (Appendix)ชื่อเรื่อง : ความสามารถของห'องปฏิบัติการ_______________ :ภาคผนวก (Appendix)ชื่อเรื่อง : ขอบข ายการวิเคราะห ทดสอบ (Scope of Testing and Analysis)งานจุลทรรศน และจุลวิเคราะห (AP-MT-MCU-MMS-01)ศูนย เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห งชาติ (MTEC)ผู'จัดทำ :…………………………ผู'จัดการ(……./………/…….) ผู'ทบทวน :………………………………รอง ผศว.(……./………/…….) ผู'อนุมัติ :………………………………ผศว.(……./………/…….) วันที่มีผลบังคับใช' :ศูนย6เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห@งชาติ114 อุทยานวิทยาศาสตร6ประเทศไทย ถนนพหลโยธิน ตำบลคลองหนึ่ง อำเภอคลองหลวง จังหวัดปทุมธานี 12120
ศูนย เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห งชาติ เลขที่เอกสาร : AP-MT-MCU-MMS-01ปรับปรุงครั้งที่ : 0วันที่มีผลบังคับใช' : 2566หน'าที่ : 2 ของ 9ชื่อเอกสาร : ภาคผนวก (Appendix)ชื่อเรื่อง : ความสามารถของห'องปฏิบัติการ_______________ :ประวัติการแก'ไข (Revision History)แก'ไขครั้งที่ วันที่แก'ไข หัวข'อ รายละเอียดการแก'ไข หมายเหตุ0 ประกาศใช'เอกสารครั้งแรก1 19/12/2566 XCT เพิ่มการให'บริการวิเคราะห6ทดสอบด'วยเทคนิค X-ray ComputedTomography (XCT)
ไฟล์ข้อมูล (2)
- PDFTesting_and_Analysis_TSMA_MMS_2024_pdf97 KBดาวน์โหลด →
- CSVTesting_and_Analysis_TSMA_MMS_2024_csv17 KBดาวน์โหลด →
สำเนาที่เราจัดเก็บไว้ พร้อมค่าแฮช SHA-256 — ต้นฉบับยังอยู่ที่เว็บไซต์ผู้เผยแพร่